FST 5000 薄膜應(yīng)力測(cè)量?jī)x
可測(cè)量晶圓類光電薄膜樣品的弓高、翹曲、輪廓形貌、曲率半徑和薄膜應(yīng)力
1雙波長(zhǎng)掃描
2
全自動(dòng)測(cè)量
3
高性價(jià)比