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FST 5000 薄膜應(yīng)力測(cè)量?jī)x
可測(cè)量晶圓類光電薄膜樣品的弓高、翹曲、輪廓形貌、曲率半徑和薄膜應(yīng)力
1雙波長(zhǎng)掃描
2 全自動(dòng)測(cè)量
3 高性價(jià)比
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試用產(chǎn)品:
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產(chǎn)品介紹
Product Introduction
基于經(jīng)典基片彎曲法Stoney公式測(cè)量原理,采用先進(jìn)的激光掃描方式和探測(cè)技術(shù),以及智能化的操作,使得FST5000薄膜應(yīng)力儀特別適合于晶圓類光電薄膜樣品的弓高、翹曲、輪廓形貌、曲率半徑和薄膜應(yīng)力測(cè)量和計(jì)算。
基本參數(shù)
Product Specification

技術(shù)規(guī)格

參數(shù)

基本原理

激光曲率法 基于Stoney公式

主要方法

采用雙波長(zhǎng)激光對(duì)樣品進(jìn)行掃描測(cè)量 635 nm/670 nm 波長(zhǎng)/ >5mW

主要功能

自動(dòng)測(cè)量晶圓樣品輪廓形貌、弓高、翹曲度、曲率半徑和薄膜應(yīng)力

薄膜應(yīng)力測(cè)試范圍

1~10000 MPa

曲率半徑測(cè)試范圍

2-20000 m

曲率半徑重復(fù)精度

<1 % 1σ(曲率半徑< 20 m) <2.5 % 1σ (曲率半徑 < 200 m)

最小掃描步長(zhǎng)

0.1mm

樣品尺寸

子型號(hào)M6-標(biāo)配最大6 英寸,向下兼容4、3、2 英寸 子型號(hào)M8-標(biāo)配最大8 英寸,向下兼容6、4、2 英寸 子型號(hào)M12-標(biāo)配最大12英寸,向下兼容8、6、4 英寸

樣品臺(tái)

電動(dòng)旋轉(zhuǎn)平臺(tái)

樣品基片校正

可數(shù)據(jù)處理校正原始表面不平影響(對(duì)減模式)

通訊連接端口

USB 3.0

操作軟件

可視化2D/3D顯示晶圓輪廓形貌、弓高、翹曲 曲率半徑和薄膜應(yīng)力分布 視窗界面/適用于Windows 10系統(tǒng)

操作電腦

標(biāo)配品牌臺(tái)式一體機(jī): 顯示器:≥21英寸,≥8 G內(nèi)存,CPU ≥ 2.5 GHz,≥512 G硬盤

重量尺寸

~35kg / 850 寬×550深×450 高 mm