CN
Electron microscopy (EM) sample preparation
電鏡（EM）制樣
我們從性能參數(shù)、使用體驗(yàn)、價(jià)格、產(chǎn)品可靠性及工藝拓展性等多個(gè)維度綜合考量，力求在相應(yīng)場(chǎng)景能提供BKM（ Best Known Method ）解決方案，讓 EM 制樣變得更簡(jiǎn)單省心。
